Loading...
Bienvenue sur la collection HAL du LARIS
Direction | Sébastien LAHAYE
Référent·e HAL | Marie-Françoise GÉRARD
Fichiers
Références
Proportion d'Open Access
Actualités du Laboratoire
Mots-Clés
Publications des équipes de recherche du LARIS
SDO | Systèmes Dynamiques et Optimisation ISISV | Information, Signal, Image et Sciences du Vivant SFD | Sûreté de Fonctionnement et aide à la DécisionDernières parutions
-
Jaber Al Rashid, Mohsen Koohestani, Laurent Saintis, Mihaela Barreau. Degradation and Reliability Modeling of EM Robustness of Voltage Regulators Based on ADT: An Approach and A Case Study. IEEE Transactions on Device and Materials Reliability, 2024, 24 (1), pp.2-13. ⟨10.1109/TDMR.2023.3340426⟩. ⟨hal-04334074⟩